Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Aoki Y., Hasegawa T., Takahashi Y., Yamada Y., Koizumi T., Miyata S., Nomoto S., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, fabrication, microstructure, critical current, thickness dependence, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, fabrication, critical current, thickness dependence, microstructure, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, microstructure, annealing process, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Joo J., Sugano M., Nah W., Kumakura H., Matsumoto A., Kim J.H., Koizumi T., Choi S., Kiyoshi T., Ha D.-W., Ha H.-S.
Nagaya S., Hasegawa T., Nakatsu T., Kitaguchi H., Kumakura H., Nishioka J., Matsumoto A., Koizumi T., Hikichi Y.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, tapes multifilamentary, phase formation, fabrication, heat treatment, microstructure
Nunoya Y., Ando T., Okuno K., Ono M., Hasegawa T., Ohtani N., Isono T.(isonot@naka.jaeri.go.jp), Ozaki A., Koizumi T.
Nagaya S., Aoki Y., Hasegawa T., Koizumi T.(k910576@snt1.swcc.co.jp), Nakatsu T., Ohtani N., Hirano N.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.